TBPS01近場探頭30K-6G

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TBPS01近場探頭30K-6G TH20，H10，H5和E5是磁場（H）和電場（E）探頭，用于輻射發射EMC預一致性測量。探頭用于電磁輻射源的近場。

TBPS01近場探頭30K-6G它們用于在電子組件的構造塊中定位和識別潛在的干擾源。這些探針的作用類似于寬帶天線，用于拾取組件，PCB跡線，外殼開口或縫隙以及可能發射射頻的任何其他部件的輻射。探頭通常連接到頻譜分析儀。在PCB組件或外殼的表面上掃描探針可以快速確定發出電磁輻射的位置。通過更換為較小尺寸的探頭，可以進一步縮小發射源的范圍。

其他應用是通過將RF信號饋入探頭并將其輻射到潛在敏感的電路部分中來進行RF抗擾度測試：此外，探頭可用于維修或調試領域，以通過減少接觸式RF測量來跟蹤RF信號鏈中的問題，信號電平。另一種應用是對射頻構件（例如調制器或振蕩器）的非接觸測量?？梢越Y合低噪音前置放大器測量頻率，相位噪聲和頻譜分量。

TBWA2/20dB 和 TBWA2/40db 寬帶放大器連接在 EMC 探頭和頻譜分析儀之間，以增加測量的動態范圍

特點：

頻率范圍高達6GHz、絕緣橡膠涂層、可選具有20dB和40dB增益的寬帶放大器

纖薄的設計便于進行緊密相隔器件之間的測量、 SMB連接器可避免在掃描DUT時扭曲RF線纜

屏蔽回路可避免拾取共模噪音，對人手不敏感

探頭尺寸：

探頭	尺寸	環尺寸	環長
H20 磁場探頭	170mm	20 mm	N.A.
H10 磁場探頭	170mm	10 mm	N.A.
H5 磁場探頭	170mm	5 mm	N.A.
E5 電場探頭	170mm	N.A.	5 mm

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